1. Whereby, a contactor for testing a semiconductor device with improved durability, wear resistance, and abrasion resistance, and a prolonged lifespan, can be obtained.

이에 의해, 내구성, 내마모성, 내마찰성, 사용수명 등의 면에서 향상된 반도체 소자 테스트용 콘택터를 얻을 수 있으며, 특히 하판의 재질을 경성 CCL로 한정함으로써 이를 통해 전체 콘택터를 지지하는 보강판의 기능을 겸하도록 할 수 있다.

2. A gas insulated switchgear includes a disconnecting switch, a ground contactor and a circuit breaker which are disposed in a pressure container which is filled with insulating gas, wherein the disconnecting switch is supported by an additional connection conductor in the pressure container.

가스 절연 개폐 장치는 절연 가스가 충진된 압력 용기 내부에 차단기, 단로기 및 접지 개폐기가 배치되고, 상기 차단기가 상기 압력 용기 내부에서 별도의 연결 도체에 의해 지지된다. 가스 절연 개폐 장치는 상기 연결 도체의 외주면에 전기적으로 접촉하며 회전 이동 가능하도록 상기 연결 도체의 외주면을 감싸며 결합되는 회전 슬리브, 상기 회전 슬리브와 일체로 회전 이동하도록 상기 회전 슬리브에 장착되는 가동 접점, 상기 가동 접점과 선택적으로 접촉하도록 상기 가동 접점의 회전 경로 상에 상호 이격되게 배치되는 제 1 및 제 2 고정 접점 및 상기 회전 슬리브를 회전 구동하는 구동 유닛을 포함한다.

3. In addition, the method for manufacturing the semiconductor device test contactor according to the present invention includes the steps of: molding the main body using mixed thermally conductive material of silicon and alumina; forming the through-holes in the vertical direction of the main body; and filling the through-holes with the conductive powder.

또한, 본 발명에 따른 반도체 소자 테스트용 콘텍터 제조방법은 실리콘과 알루미나가 혼합된 열전도성 소재를 이용하여 본체를 성형하는 단계; 상기 본체에 상하 방향으로 관통홀을 형성하는 단계; 및 상기 관통홀에 도전성 파우더를 충진하는 단계;를 포함한다.