1. The characteristics of lattice strain measurements by X-rays on amorphous and semicrystalline polymeric materials will be described.

Die Merkmale der Gitterdehnungsmessung mit Röntgenstrahlen an amorphen und teilkristallinen Kunststoffen werden vergleichend dargelegt.

2. Measurements of the density and the absolute intensity of small angle X-ray scattering of semicrystalline polyethylenterephthalate were performed.

Es wurden Messungen der Dichte sowie der absoluten Intensität der Röntgenkleinwinkelstreuung an teilkristallinem Polyäthylenterephthalat durchgeführt.