1. A process for the analog and/or digital testing of electronic assemblies, especially an in-circuit test in which the individual components are tested in succession, characterized in that the automatic in-circuit test mechanism (1) used has a VME communications bus (2, 8) to exchange data with the process computer (3).

Verfahren zur analogen und/oder digitalen Prüfung von Elektronikbaugruppen, insbesondere einem In-Circuit-Test, bei dem die Einzelbauelemente nacheinander geprüft werden, dadurch gekennzeichnet, daß der In-Circuit-Test-Automat (1) einen VME-Kommunikationsbus (2, 8) zum Austausch von Daten mit dem Prozeßrechner (3) aufweist.